Details for 2019183682
Up to date per 01.04.2026
Actions
Details for 2019183682
Deleted
European Patent
15.01.2020 A
01.01.2025 B1
12.07.2018
US
201816033987
H01J 37/28 20060101AFI20191122BHEP
Owner
ICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbHAmmerthalstrasse 20 85551 HeimstettenDE
Representative
No representatives present
Inventor
Adamec, PavelICT Integrated Circuit Testing Gesellschaft für Halbleiterprüftechnik mbH Am See 29 85540 HaarDE